为落实石家庄市集成电路高精度测试装备重点实验室建设任务，夯实专业师生理论基础，紧跟集成电路产业前沿技术发展趋势。6月25日，我系在知行4号楼143教室举办“集成电路可靠性”专题讲座。本次讲座特邀中国电科十三所检测计量中心部门书记、科技部部长、高级工程师冉红雷担任主讲嘉宾。

  冉红雷部长深耕集成电路检测计量领域多年，拥有丰富的一线工程实践与行业管理经验。讲座中，他立足国内芯片产业发展实际，围绕集成电路器件可靠性核心痛点、失效分析方法、高精度测试检测技术、行业可靠性标准体系等关键内容展开系统讲解，结合产业真实案例剖析芯片设计、制造、封装全流程中的可靠性风险点，深入解读高精度测试装备在器件品质管控中的核心作用，有效打通了课堂理论与产业工程应用的壁垒。

此次讲座不仅拓宽了师生的行业视野，补齐了课堂教学中产业实操经验的短板，更让大家进一步明晰了集成电路可靠性技术的行业发展前景与人才能力要求，为专业人才培养指明了方向。

下一步，我系将持续常态化开展系列专家讲座、企业实操实训、产业技术研讨等特色活动，持续链接中国电科十三所等本地优质集成电路产业资源，推动行业前沿技术、工程实践经验走进课堂，以高水平学术交流助力电子信息、集成电路专业人才高质量培养，为石家庄市集成电路产业创新发展输送专业后备力量。

（撰稿：于文思  摄影：景向阳）